总体描述

蔡司 Xradia 610 & 620 Versa
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。

技术参数：

不受影响的高分辨率
由于几何放大固有的影响，常规的X射线计算机断层扫描(CT)只能够对小样品进行高分辨率成像。受长工作距离的要求限制，对于大的样品实现高分辨率成像是不可能的。此外，CT系统要实现高分辨率成像还需要具备低X射线通量，从而降低了检测效率。大多数CT制造商所声称的高分辨率与实际的应用分辨率是不符的。
蔡司Xradia 600 Versa系列通过将两级放大架构与高通量X射线源技术相结合，解决了这些问题。
蔡司采用真实空间分辨率的概念，为衡量3D X射线显微镜性能提供了标准。空间分辨率是指成像系统能够分辨两个特征的最小距离。蔡司Xradia 600 Versa系列可实现500nm最高空间分辨率和40nm最小体素。
 

特点：

扩大了微米级和纳米级CT解决方案的应用范围
无损亚微米级分辨率显微观察
在不影响分辨率的情况下可实现更高通量和更快的扫描
最高空间分辨率500nm，最小体素40nm
可在不同工作距离下对不同类型、不同尺寸的样品实现高分辨率成像
原位成像技术，在受控环境下对样品微观结构的动态演化过程进行无损表征
可随着未来的创新发展进行升级和扩展